CT र PT परीक्षण बेन्च

अनुपात त्रुटि र चरण कोण त्रुटि परीक्षण

उच्च र स्थिर परीक्षण डाटा शुद्धता

ओपन-सर्किट र क्लोज-सर्किट डिमग्नेटाइजेशन प्रकार्य

ओभर करन्ट, ओभर भोल्टेज, रिभर्स पोलारिटी, ओभरलोड र गलत तार संरक्षणको साथ

लागू मानक: IEC 60044 वा ANSI/IEEE C57.13 (ग्राहकको आवश्यकताहरूमा निर्भर गर्दछ)

विशेषताहरु

अनुपात त्रुटि र चरण कोण त्रुटि परीक्षण।

उच्च र स्थिर परीक्षण डाटा शुद्धता।

मोटे र ठीक समायोजन।

पीसी सफ्टवेयर वा म्यानुअल समायोजन (वैकल्पिक)।

ओपन-सर्किट र क्लोज-सर्किट डिमग्नेटाइजेशन प्रकार्य।

ओभर करन्ट, ओभर भोल्टेज, रिभर्स पोलारिटी, ओभरलोड र गलत तार संरक्षणको साथ।

तेर्सो वा ठाडो संरचना डिजाइन (वैकल्पिक)।

लागू मानक: IEC 60044 वा ANSI/IEEE C57.13 (ग्राहकको आवश्यकताहरूमा निर्भर गर्दछ)।

भाग समावेश परीक्षण प्रणाली

नोट: ग्राहक आवश्यकता अनुसार भाग समावेश विभिन्न कन्फिगरेसन छनोट गर्न सक्नुहुन्छ।

वस्तु १	नियन्त्रण बेंच
वस्तु २	ट्रान्सफर्मर परीक्षक (CT PT तुलनात्मक पुल)
वस्तु ३	हालको ट्रान्सफर्मर बोझ
वस्तु ४	सम्भावित ट्रान्सफर्मर बोझ
वस्तु ५	मानक वर्तमान ट्रान्सफर्मर (वर्तमान स्रोत संग)
वस्तु ६	मानक सम्भावित ट्रान्सफर्मर (भोल्टेज स्रोतको साथ)
वस्तु ७	प्रेरक भोल्टेज विभाजक
वस्तु ८	ठूला वर्तमान परीक्षण केबलहरू
वस्तु ९	माध्यमिक परीक्षण केबलहरू

अघिल्लो: PT Burden FY श्रृंखला

अर्को: अनुनाद उच्च भोल्टेज स्रोत प्रणाली

इनपुट भोल्टेज	AC 220V±10%, 50HZ वा 60HZ (वा ग्राहकको आवश्यकता अनुसार)
मूल्याङ्कन क्षमता	10kVA, 20kVA, 30kVA (वा ग्राहकको आवश्यकता अनुसार)
आवृत्ति	50HZ, 60HZ
शुद्धता वर्ग
मानक CT र PT	०.०५%, ०.०२%, ०.०१%, ०.००५%
CT र PT बोझ	±3%
CT PT तुलनाकर्ता	±2%
प्रेरक भोल्टेज विभाजक	०.००५%, ०.००१%
प्राथमिक र माध्यमिक दायरा
मानक CT	प्राथमिक: 5-2000A, 5-3150A, 5-5000A वा अन्य माध्यमिक: 5A, 1A उपलब्ध ग्राहक अनुसार अनुकूलित
मानक PT	प्राथमिक: 6kV(6/√3kV), 10kV(10/√3kV), 20kV(20/√3kV), 35kV(35/√3kV), वा अन्य माध्यमिक: 100V, 100/√3V, 100/3V, वा अन्य उपलब्ध ग्राहक अनुसार अनुकूलित